Caracterisation Microonde de Materiaux En Bande Ism

Les travaux presentes dans ce manuscrit sont axes sur le developpement d'une nouvelle technique de caracterisation basee sur la variation de la reponse d'un resonateur, reponse modifiee par les proprietes dielectriques d'un materiau sous test. La technique proposee utilise la microscopie microonde en champ proche pour la caracterisation resonante et non destructive de materiaux dielectriques dans la bande ISM (2,45 GHz). Celle-ci permet de determiner les proprietes electromagnetiques (permittivite relative, tangente de pertes) des echantillons dielectriques solides de faible volume par rapport a la longueur d'onde de mesure, et cela sans aucun traitement prealable. La connaissance de ces parametres est essentielle pour fournir des informations critiques necessaires pour la conception, la modelisation et la fabrication de circuits microondes.