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Roentgen-Pulverdiffraktometrie: Rechnergestutzte Auswertung, Phasenanalyse Und Strukturbestimmung
Paperback

Roentgen-Pulverdiffraktometrie: Rechnergestutzte Auswertung, Phasenanalyse Und Strukturbestimmung

$107.99
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This title is printed to order. This book may have been self-published. If so, we cannot guarantee the quality of the content. In the main most books will have gone through the editing process however some may not. We therefore suggest that you be aware of this before ordering this book. If in doubt check either the author or publisher’s details as we are unable to accept any returns unless they are faulty. Please contact us if you have any questions.

Die Beugung von Roentgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerstoerungsfreien Identifikation von Festkoerperproben benutzt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und UEbungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Gegenuber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausfuhrlicher behandelt.

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Format
Paperback
Publisher
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Country
Germany
Date
11 September 2002
Pages
292
ISBN
9783540439677

This title is printed to order. This book may have been self-published. If so, we cannot guarantee the quality of the content. In the main most books will have gone through the editing process however some may not. We therefore suggest that you be aware of this before ordering this book. If in doubt check either the author or publisher’s details as we are unable to accept any returns unless they are faulty. Please contact us if you have any questions.

Die Beugung von Roentgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerstoerungsfreien Identifikation von Festkoerperproben benutzt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und UEbungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Gegenuber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausfuhrlicher behandelt.

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Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Country
Germany
Date
11 September 2002
Pages
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9783540439677